安科瑞 鮑靜君

高加速應(yīng)力篩選試驗系統(tǒng)/Hightly accelerated stress screening(HASS)是產(chǎn)品通過HALT試驗得出操作或破壞極限值后在生產(chǎn)線上做高加速應(yīng)力篩選，要求*的產(chǎn)品參加篩選，其目的是為了使得生產(chǎn)的產(chǎn)品不存在任何隱含的缺陷或者至少在產(chǎn)品還沒有出廠前找到并解決這些缺陷，HASS就是通過加速應(yīng)力方式以及在短時間內(nèi)找到有缺陷的產(chǎn)品，縮短糾正措施的周期，并找到具有同樣問題的產(chǎn)品。

方法標(biāo)準：

●GB/T 29309《電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗規(guī)程高加速壽命試驗導(dǎo)則》

試驗優(yōu)點：

a)設(shè)計缺陷，大大提高設(shè)計可靠性，確保能獲得早期高可靠性，使設(shè)備具有較高的外場可靠性;

b)能用低費用和短時間檢測出盡可能多的缺陷;

c)提高產(chǎn)品外場的可靠性;

d)降低產(chǎn)品生產(chǎn)、篩選、維修和擔(dān)保費用。

試驗?zāi)芰Ψ秶?/span>

溫度范圍：-100℃至200℃

溫變速率：60℃/min

振動量級：80Grms(空載)

頻率范圍：20-6000H (10000H)

應(yīng)用領(lǐng)域：

信息技術(shù)產(chǎn)品、汽車電子產(chǎn)品、電動玩具產(chǎn)品、電工電子產(chǎn)品整機及其電子部件、印制電路板組件等。