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CAF測(cè)試系統(tǒng) HAST高加速壽命試驗(yàn)箱，CAF是指印制線路板內(nèi)部在電場(chǎng)作用下跨越非金屬基材而遷移傳輸?shù)膶?dǎo)電性金屬鹽構(gòu)成的電化學(xué)遷移。它通常發(fā)生在印制線路板基材...

日本hirayama平山HAST高加速壽命試驗(yàn)箱維修，HAST，它通過(guò)模擬產(chǎn)品在長(zhǎng)時(shí)間使用過(guò)程中可能遇到的各種環(huán)境條件和應(yīng)力，如極低的溫度、振動(dòng)和電壓等，以測(cè)試...

zonglen HAST高加速壽命試驗(yàn)箱，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕...

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HAST高加速壽命偏壓老化試驗(yàn)箱，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力...

BiasHAST高加速壓力測(cè)試系統(tǒng)，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓...

半導(dǎo)體芯片BiasHAST測(cè)試，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的...

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BiasHAST偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)，適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品...

半導(dǎo)體芯片BiasHAST測(cè)試PCB老化試驗(yàn)箱，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫...

芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使用戶在高低溫條件下對(duì)半導(dǎo)體分立器件、光耦、...

芯片 老化測(cè)試系統(tǒng)Small Burn-in Tester，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使用戶...

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電阻 器件溫度系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，電阻溫度系數(shù)測(cè)量系統(tǒng)是依據(jù)測(cè)試行業(yè)規(guī)范，集環(huán)境試驗(yàn)參數(shù)控制、電阻性能測(cè)試、保護(hù)評(píng)估控制于一體，可按照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的環(huán)境條件下對(duì)試驗(yàn)樣...