元器件推拉力測試是為了評估電子元器件連接可靠性和耐久性的測試方法。它考慮了外部力對連接件的影響，并遵循相關的標準和要求，以確保元器件在各種應力下的穩(wěn)定性和性能。這項測試在各個領域的電子設備應用中很重要。通過對元器件進行推拉力測試，可以驗證電子元器件連接的可靠性和耐久性，以確保其在實際應用中不會出現(xiàn)斷裂、松動或故障等問題，從而提高設備的性能和可靠性。這項測試對于保證電子設備的長期穩(wěn)定運行具有重要意義。半導體封裝測試設備推拉力測試儀

設備特點

1.所有傳感器采用高速動態(tài)傳感及高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，確保測試數(shù)據(jù)的準確無誤。半導體封裝測試設備推拉力測試儀

2.采用公司研發(fā)的高分辨率(24 BitPlus超高分辨率)的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。

3.采用公司的安全限位及安全限速技術，讓操作得心應手。

4.采用公司的智能燈光控制與調節(jié)系統(tǒng)，減少光源對視力的損傷。

5.標配高清觀察顯微鏡，減少人員視覺疲勞。

6.雙搖桿四向操作及人性化的軟件配置使操作簡單、方便。

7.結合人體學的設計，讓使用更加舒適。

8.設備的保護措施，避免因人員誤操作對設備的損壞。

9.強大的研發(fā)實力，根據(jù)客戶的需求提供訂制化產品。

10.貼心的售后服務，讓使用人員無后顧之憂。

測試模塊范圍：

測試參數(shù)

設備型號:  LB-8100A

外形尺寸:  650mm*600mm*760mm(含左右操作手柄）

設備重量:  約 80KG

電源供應： 110V/220V@3.0A 50/60Hz

氣壓供應： 4.5-6Bar

控制電腦： 聯(lián)想/惠普原裝 PC

電腦系統(tǒng)： Windows7/Windows10 正版系統(tǒng)

顯微鏡： 標配高清連續(xù)變倍顯微鏡（可選配三目顯微鏡+高清 CCD 相機）

傳感器更換方式： 手動更換（根據(jù)測試需要選擇相應的測試模組，軟件自動識別模組量程）

平臺治具： 360 度旋轉，平臺可共用各種測試治具

XY 軸絲桿有效行程：100mm*100mm 配真空平臺可拓展至 200mm*200mm，測試力 200KG

XY 軸移動速度： 采用霍爾搖桿對 XY 軸自由控制，移動速度為 6mm/S

XY 軸絲桿精度： 重復精度±5um 分辯率≤0.125 ；2mm 以內精度±2um

Z 軸絲桿有效行程： 100mm 分辯率≤0.125um，測試力 20KG

Z 軸移動速度： 采用霍爾搖桿對 Z 軸自由控制，移動速度為 8mm/S

Z 軸絲桿精度： ±2um 剪切精度：2mm 以內精度±1um

傳感器精度： 傳感器精度±0.003%；綜合測試精度±0.25%

設備治具：  根據(jù)樣品或圖紙按產品設計治具（出廠標配一套）

設備校正：  設備出廠標配相應校正治具及砝碼一套

質量保證：  設備整機質保 2 年，軟件升（人為損壞不含）