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凱戈納斯儀器商貿(mào)(上海)有限公司


HotDisk模塊

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產(chǎn)品型號Hot Disk 模塊

品       牌

廠商性質(zhì)其他

所  在  地上海市

聯(lián)系方式:Vicky查看聯(lián)系方式

更新時間:2025-07-08 13:14:30瀏覽次數(shù):24次

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產(chǎn)品簡介

HotDisk模塊

詳細介紹

hotdisklogo.jpg

Hot Disk設(shè)備不僅可以根據(jù)探頭的選擇,還可以根據(jù)可用的測量模塊來定制測試需求。這些模塊允許測試不同幾何形狀、導(dǎo)熱范圍和材料類型的樣品。各向同性標(biāo)準(zhǔn)模塊是所有配置的核心,而可選模塊為Hot Disk配置添加更多新功能。

各項同性標(biāo)準(zhǔn)模塊

體導(dǎo)熱系數(shù)的全面測試

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1

HotDisk_Isotropic-Standard-module.png

各項同性標(biāo)準(zhǔn)模塊

強大的各向同性測量模塊允許Hot Disk用戶測量任何各向同性塊體樣品的導(dǎo)熱系數(shù)、熱擴散率和比熱容,無論是固體、液體、粉末、膏體還是泡沫。用該模塊測得的導(dǎo)熱系數(shù)是樣品被檢測的體積的幾何平均值。使用各向同性模塊很簡單,只需要最少的輸入?yún)?shù)。即使是一個未知材料性能的樣品也可以很快地進行測試和分析。

各向同性測量模塊具有單面和雙面試樣測試功能。

導(dǎo)熱系數(shù)測試范圍:

系統(tǒng) 范圍

TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 2200 0.03-500 W/mK

TPS 1500 0.03-50 W/mK

TPS 500 S, TPS 500 0.03-100 W/mK

Hot Disk M1 0.03-40 W/mK

適用系統(tǒng)型號:

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1

平板模塊

板材或平板樣品的二維方向?qū)嵯禂?shù)測試

TPS 2200 TPS 2500 S TPS 3500 TPS 500 (S)

平板模塊

利用平板測量模塊,可以對高導(dǎo)熱性材料的晶圓片、片或板進行測試。在適合用這種方法檢測的樣品中,我們測量過如金屬、半導(dǎo)體和石墨。該方法在已知樣品厚度的前提下,只需要將測量時間和輸出功率作為數(shù)據(jù)輸入即可,使用起來非常簡單直觀。

平板測量模塊需要兩個相同的樣品片,以準(zhǔn)確的測量

導(dǎo)熱系數(shù)測試范圍:

系統(tǒng) 范圍

TPS 3500, TPS 2500 S 1*-1500 W/mK

TPS 2200 1*-500W/mK

TPS 500 S 1*-200 W/mK

*為了達到測試精度建議測試5W/mK以上的樣品,但低至1W/mK的樣品都可得到很好的重復(fù)性。

適用系統(tǒng)型號:

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 500 S

各向異性模塊

方向依賴性的導(dǎo)熱系數(shù)測試

TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500

各向異性模塊

各向異性測量模塊提供了的能力,以測量樣品在軸向和徑向分別的導(dǎo)熱系數(shù)。能夠測試導(dǎo)熱系數(shù)的各向異性對許多應(yīng)用來說是非常重要的。在任何涉及加熱或冷卻的情況下,例如電池、電子產(chǎn)品和建筑材料領(lǐng)域中,能夠確定這一特性是至關(guān)重要的。這種類型的測量通過預(yù)輸入檢測樣品的比熱容即可實現(xiàn)。比熱容,如果不能在科學(xué)期刊中找到,或從以前類似材料的測試中得知,可以很容易和準(zhǔn)確地使用專用的TPS測量模塊進行測試。

各向異性測量模塊具有單面和雙面樣品測試的特點,但建議使用雙面測試以達到精度。

各向同性測量模塊具有單面和雙面試樣測試功能。

導(dǎo)熱系數(shù)測試范圍:

系統(tǒng) 范圍

TPS 3500, TPS 2500 S 0.005-1500 W/mK

TPS 2200 0.005-500W/mK

TPS 1500 0.005-50 W/mK

適用系統(tǒng)型號:

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500

薄膜模塊

測試透過薄膜的導(dǎo)熱系數(shù)

TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200

薄膜模塊

薄膜模塊用于測量通過導(dǎo)電體或板式襯底上的絕熱薄膜或涂層的導(dǎo)熱系數(shù)。通過測量薄膜上的熱阻并輸入薄膜厚度即可得到導(dǎo)熱系數(shù)。薄膜的厚度可測20到500μm。

薄膜測量模塊需要兩塊相同的樣品薄膜進行測試。

導(dǎo)熱系數(shù)測試范圍:

系統(tǒng) 范圍

TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 2200 0.01-5 W/mK

適用系統(tǒng)型號:

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200

比熱模塊

復(fù)雜樣品的直接Cp測試

TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500 TPS 500 (S)

比熱模塊

該專用模塊擅長于確定固體或液體樣品的比熱容。與所有其他Hot Disk測試一樣,這個過程是溫和的,沒有破壞性的。被測試的樣品被放置在一個絕熱包裹的金容器中,使用設(shè)定的加熱功率小心地加熱幾度,可以實現(xiàn)非常精確的比熱計算。

比熱容測量模塊是為單試樣測試而設(shè)計的。

導(dǎo)熱系數(shù)測試范圍:

系統(tǒng) 范圍

TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 1500, TPS 500 S 5 MJ/m3K

適用系統(tǒng)型號:

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 S

單面模塊

測試有限體積的樣品

TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1

單面模塊

雖然最準(zhǔn)確的導(dǎo)熱系數(shù)測量是通過探頭夾在兩個樣品之間進行的,但如果樣品量小,所有TPS儀器都可以進行單面測試。這種類型的測試表現(xiàn)出與標(biāo)準(zhǔn)測試同樣出色的重復(fù)性,并使快速Q(mào)C測量或快速比較研究成為可能。單面測試的一個的缺點是測試結(jié)果的精度略低,這是由于探頭周圍的熱流必須是不對稱的。除此之外,絕熱背景材料的使用可以準(zhǔn)確的測試高導(dǎo)熱樣品,而低導(dǎo)熱樣品(例如許多聚合物)只能得到蓄熱系數(shù)。單面測試不需要額外的設(shè)備,只需要使用任何絕熱材料來固定探頭即可。這是所有Hot Disk型號都提供的功能,并可以根據(jù)您的需求提供的絕熱背景材料。

導(dǎo)熱系數(shù)測試范圍:

系統(tǒng) 范圍

TPS 3500, TPS 2500 S, TPS 2200 0.1-500 W/mK

TPS 1500 0.1-400 W/mK

TPS 500 S 0.1-200 W/mK

TPS 500 0.1-100 W/mK

*要達到精度,樣品至少需要1W/mK;然而,直到0.1W/mK都可以保持很好的重復(fù)性和蓄熱系數(shù)。

適用系統(tǒng)型號:

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1

一維模塊

棒狀樣品的導(dǎo)熱系數(shù)測試

TPS 3500 TPS 2500 S TPS 1500 TPS 500 (S)

一維測試模塊


當(dāng)測試高導(dǎo)熱材料時,如果樣品體積有限,一維方法是非常有用的。該模塊測試棒狀試樣沿軸向的導(dǎo)熱系數(shù)和熱擴散系數(shù)。這里探頭的直徑應(yīng)該與樣品的直徑相匹配,這允許測量非常小的樣品,小到直徑1.5毫米和長度4毫米。

一維測量模塊具有單面和雙面試樣測試的特點。

導(dǎo)熱系數(shù)測試范圍:

系統(tǒng) 范圍

TPS 3500, TPS 2500 S 1-1800 W/mK

TPS 1500 1-400 W/mK

TPS 500 S 1-200 W/mK

適用系統(tǒng)型號:

TPS 3500 TPS 2500 S TPS1500 TPS 500 S

低密度/高絕熱模塊

測試最輕且最絕熱的樣品

TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500

低密度/高絕熱模塊

為了提高非常低導(dǎo)熱材料(如氣凝膠)的測試準(zhǔn)確性,這個模塊是的補充。這些材料的導(dǎo)熱系數(shù)如此之低,以至于通過探頭中間(在本例中是電纜)的熱損失變得非常顯著。利用該模塊可以精確地校正熱損失,使測量極低的導(dǎo)熱系數(shù)成為可能。

低密度/高絕熱測量模塊需要兩塊樣品進行測試。

導(dǎo)熱系數(shù)測試范圍:

系統(tǒng) 范圍

TPS 3500, TPS 2500 S,TPS 2200,TPS 1500 0.01-0.5 W/mK

適用系統(tǒng)型號:

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500

結(jié)構(gòu)探頭模塊

識別樣品內(nèi)部的趨勢及缺陷

TPS 3500 TPS 2500 S

結(jié)構(gòu)探頭模塊

的結(jié)構(gòu)探頭測量模塊使測量導(dǎo)熱系數(shù)隨探測深度的變化成為可能。該方法可用于非均勻性物質(zhì)的均勻性檢測、缺陷檢測或分析。為了精確測量,需要預(yù)先測量試樣的平均比熱容。

結(jié)構(gòu)探頭測量模塊具有單面和雙面試樣測試功能。

導(dǎo)熱系數(shù)測試范圍:

系統(tǒng) 范圍

TPS 3500, TPS 2500 S 0.03-500 W/mK

適用系統(tǒng)型號:

TPS 3500 TPS 2500 S

自動控制模塊

TCP/IP協(xié)議遠程控制

TPS 3500 TPS 2500 S TPS 2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1

自動控制模塊

該模塊允許通過TPC/IP協(xié)議遠程操作TPS儀器。當(dāng)使用儀器進行在線或近線應(yīng)用時,如質(zhì)量控制,或當(dāng)操作員不能直接使用儀器時,這就是一個強大的工具。

適用系統(tǒng)型號:

TPS 3500 TPS 2500 S TPS2200 TPS 1500 TPS 500 (S) Hot Disk M1


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