環(huán)境試驗(yàn)箱箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方并采用無反作用把手，操作簡便。適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟叩蜏丨h(huán)境下、檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。
環(huán)境試驗(yàn)箱的試驗(yàn)范圍：
(1)低壓(高空)試驗(yàn)：試驗(yàn)適用于在飛機(jī)貨艙中空運(yùn)的兵器，在高原上使用的兵器和空運(yùn)兵器在飛機(jī)受傷后發(fā)生壓力迅速下降的情形。試驗(yàn)的目的是檢驗(yàn)兵器在低壓環(huán)境中的使用性能以及壓力迅速下降對(duì)兵器性能的影響。
(2)高溫試驗(yàn)：試驗(yàn)中兵器處于高溫空氣中，但不受到陽光直接照射。試驗(yàn)針對(duì)高溫季節(jié)在室內(nèi)或密閉空間中或接近發(fā)動(dòng)機(jī)等熱源處儲(chǔ)藏或使用兵器的情形。僅當(dāng)太陽輻射試驗(yàn)不能檢驗(yàn)高溫效應(yīng)時(shí)才進(jìn)行這項(xiàng)試驗(yàn)。試驗(yàn)的目的是檢驗(yàn)在高溫環(huán)境中儲(chǔ)藏或使用的性能。
(3)低溫試驗(yàn)：試驗(yàn)適用于在壽命周期中很可能在低溫環(huán)境中使用的試件。試驗(yàn)的目的是檢驗(yàn)試件能否在長期的低溫環(huán)境中儲(chǔ)藏、操縱控制和。
(4)熱沖擊試驗(yàn)：試驗(yàn)適用于在預(yù)定的使用區(qū)域或使用模式中經(jīng)常經(jīng)受極迅速溫度變化的兵器。進(jìn)行熱沖擊試驗(yàn)的目的是檢驗(yàn)環(huán)境溫度驟然變化對(duì)兵器性能的影響。
(5)太陽輻射(日照)試驗(yàn)：這是一項(xiàng)對(duì)暴露在陽光下的兵器及其制造材料進(jìn)行的試驗(yàn)。太陽輻射可引起光化學(xué)效應(yīng)和熱效應(yīng)。在大多數(shù)情況下，這項(xiàng)試驗(yàn)可以代替高溫試驗(yàn)。通過日照試驗(yàn)可檢驗(yàn)太陽輻射對(duì)兵器或有關(guān)材料的使用或露天存儲(chǔ)的影響。
會(huì)員1.png)