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X射線光電子能譜儀

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產(chǎn)品型號AXIS-ULTRA DLD

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更新時間：2024-09-13 07:25:43瀏覽次數(shù)：229次

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上海仁特檢測儀器有限公司

經(jīng)營模式：生產(chǎn)廠家

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所在地區(qū)：上海上海市

聯(lián)系人：張永隆（業(yè)務經(jīng)理）

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產(chǎn)品簡介

規(guī)　　格：型　　號：AXIS-ULTRADLD數(shù)　　量：品　　牌：島津包　　裝：價　　格：面議AXIS-ULTRADLD型X射線光電子能譜儀由島津制作所的全資子公司--英國KRATOS公司生產(chǎn)，是實時成像XPS的產(chǎn)品，空間分辨率小于3μm

詳細介紹

規(guī)　　格：	型　　號：AXIS-ULTRA DLD	數(shù)　　量：
品　　牌：島津	包　　裝：	價　　格：面議

AXIS-ULTRA DLD型X射線光電子能譜儀由島津制作所的全資子公司--英國KRATOS公司生產(chǎn)，是實時成像XPS的產(chǎn)品，空間分辨率小于3μm。

儀器特點：

1. 能夠與多種測定技術集成

AXIS-ULTRA DLD型標準配備了具有多個國際標準窗口的樣品處理室，作為樣品的前處理腔，功能強大且擴展性強。能夠對應樣品加熱制冷及具有反應功能的樣品反應池，多樣品停放器等許多選購件。樣品分析室可以增加UPS、FE-AES、ISS等分析方法，可以組合成復合分析裝置。

2. 延遲線探測器（DLD）系統(tǒng)

采用了新研發(fā)的延遲線探測器。既可以生成譜圖又可以生成圖像。各測定模式均可以提供正確的脈沖計數(shù)。不僅可以在描譜儀模式下，通過128個檢測通道提供高靈敏度的測定，還可以不通過分析器的能量掃描，利用快速非掃描的“快照"譜儀模式瞬間測定窄掃描譜。成像模式能夠提供256×256像素、空間分辨率小于3μm的高分辨率圖像。

3. 平行成像和微區(qū)譜圖

采用平均半徑達165mm的大型靜電半球分析器與成像專用的球鏡分析器（Kratos）組合的合成分析器。在進行化學狀態(tài)分析、深度方向分析等的譜儀分析時，通過大型靜電半球分析器能夠提供高能量分辨率、高靈敏度的測定。多點微區(qū)測定時利用輸入透鏡內(nèi)的光電子偏轉系統(tǒng)，能夠實現(xiàn)準確的點分析。利用球鏡分析器進行平行成像。光電子成像的空間分辨率小于3μm，能夠在譜儀測定的同時，極短時間內(nèi)得到高分辨率圖像。

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