X射線測(cè)厚儀是基于射線通過物質(zhì)時(shí),透過的射線強(qiáng)度,隨物質(zhì)的厚度不同而改變的原理制成的非接觸、透射式厚度測(cè)量裝置。美國(guó)博曼BA100,博曼膜厚測(cè)試儀高分辨硅-PIN-接收器,配合快速信號(hào)處理系統(tǒng)能達(dá)到*的精確度和非常低的檢測(cè)限。只需短短數(shù)秒鐘,所有從13號(hào)元素氯到92號(hào)元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測(cè)定.可測(cè)量:?jiǎn)我诲儗樱?/span>Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等,測(cè)量厚度可以至微米(um),微英寸(u”),