PK-305 操作模擬耐久試驗(yàn)機(jī)
產(chǎn)品說明:本機(jī)器可模擬Notebook、手機(jī)、PDA各種動(dòng)作之操作，以了解產(chǎn)品在多次使用后，各種零件的耐久狀況。由計(jì)算機(jī)設(shè)定測試動(dòng)作，可隨時(shí)更改或儲(chǔ)存，并可同時(shí)執(zhí)行數(shù)個(gè)測試動(dòng)作，一臺(tái)計(jì)算機(jī)同時(shí)控制數(shù)臺(tái)機(jī)器。
Notebook測試規(guī)格:
磁盤片插入、退出試驗(yàn)。
光驅(qū)插入、退出試驗(yàn)。
PCMCIA插入、退出試驗(yàn)。
電池插入、退出試驗(yàn)。
各種接頭插入、退出試驗(yàn)(PRINT埠、COM埠、USB、PS2等等)。
桌面放落試驗(yàn) 。
手機(jī)測試規(guī)格 ：
天線彎曲試驗(yàn)。
天線上、下抽取試驗(yàn)。
電池插入、拔出試驗(yàn)。連接器插入、拔出壽命試驗(yàn)。
ON、OFF開關(guān)機(jī)壽命試驗(yàn)。
上蓋打開、關(guān)閉壽命試驗(yàn)。短距離落下壽命試驗(yàn)。
SIM卡插入、拔出壽命試驗(yàn)。
PDA測試規(guī)格 ：
CF卡插拔耐久試驗(yàn)。
Battery蓋插、拔耐久試驗(yàn)。
DC插頭耐久試驗(yàn)。
連接器插、拔耐久試驗(yàn)。
筆插拔耐久試驗(yàn)。
觸控屏幕摩擦耐久試驗(yàn)。
ON、OFF開關(guān)機(jī)耐久試驗(yàn)。
