手持式四探針測試儀型號:M-3
M-3型手持式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成:由M-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成,也可加配測試臺。
儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用輕觸按鍵輸入;具有零位、滿度自校功能;手動/自動轉(zhuǎn)換量程可選;測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電,適合手持式變動場合操作使用!
探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測量。配探頭,也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
詳見《四探針探頭特點(diǎn)與選型參考》點(diǎn)擊進(jìn)入
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測試。
型號:M-3
4) 適配器工作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或電池供電
5) 外形尺寸:W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
凈 重:≤0.3kg
三、基本技術(shù)參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率
型號:M-3
量程(Ω-cm/□) | 2.000 | 20.00 | 200.0 | 2.000k | 20.00k |
電阻測試范圍 | 0.010~2.200 | 2.000~22.00 | 20.00~220.0 | 0.200~2.200k | 2.000~50.00k |
電阻率/方阻 | 0.010/0.050~2.200 | 2.000~22.00 | 20.00~220.0 | 0.200~2.200k | 2.000~20.00k/100.0k |
基本誤差 | ±1%FSB±2LSB | ±2%FSB±2LSB |
電 阻: 0.010Ω ~ 50.00kΩ, 分辨率0.001Ω ~ 10 Ω
電 阻 率: 0.010Ω-cm~ 20.00kΩ-cm, 分辨率0.001Ω ~ 10 Ω-cm
方塊電阻: 0.050Ω/□ ~ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001Ω ~ 10 Ω/□
2. 可測材料尺寸
手持方式不限材料尺寸,但加配測試臺則由選配測試臺決定如下:
直 徑:SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm。
SZT-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm。
長(高)度:測試臺直接測試方式 H≤100mm。.
測量方位: 軸向、徑向均可.
3. 量程劃分及誤差等級
![]() | 產(chǎn)品名稱:紅外微波雙鑒探測器 產(chǎn)品型號:DT-700 |
微波被動紅外探測器 型號:DT-700
產(chǎn)品型號:DT-700
產(chǎn)品說明:
■K-波段微波,減少誤報(bào)
■探測距離 11m x 12m
■精巧,薄的外觀設(shè)計(jì)
■加強(qiáng)型微處理器處理技術(shù)
■電子溫度補(bǔ)償(雙溫度傳感器:1微波和1PIR)
■自適應(yīng)式探測門限處理技術(shù)
■的俯視區(qū)光路系統(tǒng)
■更快的捕獲能力
■防蟲光路系統(tǒng)
■細(xì)小的設(shè)計(jì)
產(chǎn)品參數(shù):
型號DT-700DT-700PETDT-700ACT
探測距離11m×12m
微波頻率10.525GHz
環(huán)境溫度-10℃~50℃自適應(yīng)自適應(yīng)
防寵物30kG
安裝室內(nèi)
工作電壓9.0~15.0V/DC
外觀尺寸119mm×71mm×42mm
![]() | 產(chǎn)品名稱:整箱抗壓試驗(yàn)機(jī) /壓縮強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī) /硬質(zhì)泡沫塑料壓縮強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī) 產(chǎn)品型號:TD-KY50 定制規(guī)格 500*500*500mm |
整箱抗壓試驗(yàn)機(jī)/ 壓縮強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)/ 硬質(zhì)泡沫塑料壓縮強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī) 型號:TD-KY-50
產(chǎn)品概述
TD-KY系列紙箱抗壓試驗(yàn)機(jī)是瓦楞紙箱以及與其相類似的包裝容器抗壓強(qiáng)度試驗(yàn)和堆碼強(qiáng)度試驗(yàn)的大型試驗(yàn)設(shè)備。
試驗(yàn)機(jī)為機(jī)電一體化結(jié)構(gòu),主要由施力系統(tǒng)和測控系統(tǒng)兩部分組成。
施力系統(tǒng)由交流伺服電機(jī)系統(tǒng)、機(jī)械減速系統(tǒng)、高精度絲桿傳動系統(tǒng)和施力壓板組成。
測控系統(tǒng)采用高精度傳感器、主流的ARM芯片,具有強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理功能,測試過程自動跟蹤,測試結(jié)果自動記錄,實(shí)時顯示測試數(shù)據(jù)和曲線,并可實(shí)現(xiàn)與電腦通訊。
試驗(yàn)機(jī)采用彩色觸摸寬屏作為人機(jī)操作界面,菜單式界面,美觀大方,全觸摸操作,響應(yīng)迅速。
產(chǎn)品性能穩(wěn)定可靠,測量精度高,測試功能強(qiáng)大,操作簡單快捷。
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
ISO2872 包裝—完整、滿裝的運(yùn)輸包裝件—壓力試驗(yàn)
ISO2874 包裝—完整、滿裝的運(yùn)輸包裝件—用壓力試驗(yàn)機(jī)進(jìn)行的堆碼試驗(yàn)
GB4857.4 運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn)—壓力試驗(yàn)方法
主要技術(shù)參數(shù)
型 號 | TD-KY10 | TD-KY20 | TD-KY50 |
測量范圍 | 0.1~10 kN | 0.2~20 kN | 0.5~50 kN |
分辨力 | 1 N | ||
示值誤差 | ≤1.0 % | ||
試驗(yàn)空間 | 500×500×500 | 800×800×800 1000×1000×1000 可定制 | 1000×1000×1000 1200×1200×1200 可定制 |
壓板平行度 | <(2×B/1000)mm B為壓板長邊尺寸 | ||
速度范圍 | 2~100 mm/min 相對誤差小于5% | ||
標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)速度 | 堆碼試驗(yàn)2 mm/min 抗壓試驗(yàn)10mm/min | ||
工作電源 | AC220V±10% 50Hz |
![]() | 產(chǎn)品名稱:數(shù)顯維氏硬度計(jì) 產(chǎn)品型號:TDHVS-50 |
數(shù)顯維氏硬度計(jì) 型號:TDHVS-50
TDHVS-50型數(shù)顯維氏硬度計(jì)
該機(jī)采用無摩擦主軸,試驗(yàn)力精度高;數(shù)字式壓痕自動測量系統(tǒng);試驗(yàn)過程自動化,無人為操作誤差;大型LCD液晶顯示屏,菜單操作,功能齊全(數(shù)據(jù)處理、硬度轉(zhuǎn)換等);自動數(shù)字顯示,無人為讀數(shù)誤差;隨機(jī)打印機(jī)打印硬度測試結(jié)果;精度符合GB/T4340.2 ISO6507-2 和美國ASTM E92。
數(shù)顯維氏硬度計(jì)主要應(yīng)用范圍
滲氮層、陶瓷、鋼、有色金屬;薄板、金屬薄片、電鍍層、微小試件;材料強(qiáng)度、熱處理、碳化層、脫碳層和淬火硬化層的深度;應(yīng)用范圍廣,特別適用于平行平面的精密測量。
數(shù)顯維氏硬度計(jì)主要技術(shù)參數(shù)
測量范圍:5-2900HV
試 驗(yàn) 力:9.807、49.03、98.07、196.1、294.2、490.3牛頓
(1、5、10、20、30、50公斤力)
試件允許Z大高度:180毫米 壓頭中心至機(jī)壁距離:125毫米
光學(xué)測微計(jì)放大倍數(shù):125倍,50倍 Z小檢測單位:0.5微米
電 源:交流220伏,50/60赫茲 外形尺寸:580 x 260 x 730毫米
重 量:約90千克
數(shù)顯維氏硬度計(jì)主要附件
大平試臺:1個 小平試臺: 1個
V形試臺: 1個 標(biāo)準(zhǔn)維氏壓頭:1只
標(biāo)準(zhǔn)維氏硬度塊:3塊