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NanoXSpot焦點測試儀用于對光斑尺寸 <100 µm 的 X 射線管進行質(zhì)量保證，根據(jù) prEN 12453-6、prEN 12453-7 評估焦點尺寸 <100 µm 和光斑形狀
歐洲計量創(chuàng)新與研究計劃項目開發(fā)了新的 NanoXSpot (NxS) 測量儀，具有線組、西門子星形和孔圖，用于測量小至 100 納米的聚焦光斑
計算機斷層掃描 (CT)可以根據(jù)從物體周圍不同角度拍攝的一系列 X 射線圖像重建物體的體積數(shù)據(jù)集，這項技術(shù)被廣泛用于醫(yī)學中的患者診斷。此外，它還被用于航空航天和電子等行業(yè)的無損檢測、缺陷與內(nèi)部結(jié)構(gòu)的評估以及產(chǎn)品尺寸的驗證。這些行業(yè)對檢測分辨力的要求小至納米級。
隨著電子設備的小型化變得越來越普遍，以及隨著新技術(shù)（如電動汽車）的出現(xiàn)和航空工業(yè)中輕質(zhì)化合物的使用，對 5微米或更小分辨力（大約人類頭發(fā)絲寬度的 1/10）的 CT 測量的需求日益增加。X 射線管的光斑尺寸直接影響到測量分辨力。但是，對于5微米以下的 X 射線管光斑尺寸，沒有國1際公1認的標準或測量方法。X 射線設備制造商采用自有的測量方法導致了不一致的結(jié)果。因此，研究人員正在開發(fā)基于可溯源表征的測量儀來確定光斑大小、形狀和位置的新方法，并將作為這些光斑測量的國1際公1認標準引入。
歐洲計量創(chuàng)新與研究計劃（EMPIR）項目《對光斑小至100納米的 X 射線管焦斑尺寸的測量 （NanoXSpot，18NRM07）》正在開發(fā)新的標準實踐，以比目前更高的準確度水平表征 X 射線焦斑。
X 射線管的質(zhì)量保證 – 光斑尺寸和形狀
一段時間后，可能會觀察到 X 射線管（尤其是納米和微焦管）目標的燒毀使用量，這可能導致光斑尺寸增加。一些管制造商允許管目標旋轉(zhuǎn)。這允許改變目標上的焦點位置并提供不失真的焦點尺寸
NanoXSpot 測量儀 (NxS)
? 全新測量儀設計 NxS-1020 最終確定：
• 使用新開發(fā)的算法進行焦點測量和特性分析
• 全新焦點 CT 重建算法
? 樣品支架設計便于測量儀使用
? NxS 測量儀上的圖案組（4 個象限）：
• 不同方向的線組圖案結(jié)構(gòu)，特征尺寸為 3-12 µm（Q1）
• 會聚線組圖案（Q2 和 Q3）（類似于西門子星）
• 直徑為 5 µm 至 1 mm 的孔圖案（Q4）
重新設計的 NxS-1022b 儀表
? 樣品架設計便于使用儀表
? NxS 儀表上的圖案組（4 個象限）：
• 不同方向的線組圖案結(jié)構(gòu)，特征尺寸為 4-20 µm（Q1）
• 不同方向的線組圖案結(jié)構(gòu)，特征尺寸為 63 µm（Q2）
• 直徑為 5 µm 至 1000 µm 的孔圖案（Q3）
• 不同方向的線組圖案結(jié)構(gòu)，特征尺寸為 25-50 µm（Q4）
規(guī)格：
