冷熱沖擊試驗(yàn)箱導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案，本系統(tǒng)針對(duì)PCB通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求，克服了手工測(cè)量過(guò)程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)了對(duì)PCB多通道低阻測(cè)試的解決方案。本系統(tǒng)不僅可以很好地