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NS系列半導(dǎo)體臺(tái)階儀采用了線性可變差動(dòng)電容傳感器LVDC，具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級(jí)的分辨率，同時(shí)，其集成了超低噪聲信號(hào)采集、超精細(xì)運(yùn)動(dòng)控制、標(biāo)定算法等核心技...

VX8000全自動(dòng)二次元閃測(cè)儀采用雙遠(yuǎn)心高分辨率光學(xué)鏡頭，結(jié)合高精度圖像分析算法，并融入一鍵閃測(cè)原理。CNC模式下，只需按下啟動(dòng)鍵，儀器即可根據(jù)工件的形狀自動(dòng)定...

基于飛機(jī)裝配精度激光跟蹤檢測(cè)儀器的RobotMaster機(jī)器人套件為工業(yè)機(jī)器人空間位置精度測(cè)量標(biāo)定和性能檢測(cè)提供高效可行的解決方案，既提供基于光學(xué)靶球的經(jīng)濟(jì)方案...

NS系列半導(dǎo)體臺(tái)階高度測(cè)量?jī)x器電動(dòng)X/Y平臺(tái)（150mm×150mm）搭配8英寸晶圓載物臺(tái)，適配半導(dǎo)體晶圓、光伏基板等大尺寸樣品?？删珳?zhǔn)測(cè)量臺(tái)階高度（...

VT6000高精度共聚焦顯微鏡基于共聚焦技術(shù)，結(jié)合精密Z向掃描與智能3D建模算法，可實(shí)現(xiàn)對(duì)納米至微米級(jí)表面形貌的高精度測(cè)量，覆蓋光滑、粗糙、低反射至高反射等多樣...

SuperViewW高精度光學(xué)3D表面輪廓儀基于白光干涉技術(shù)，分辨率達(dá)0.1nm，支持從超光滑到粗糙表面的全類(lèi)型樣件檢測(cè)。覆蓋半導(dǎo)體、3C電子、光學(xué)加工、汽車(chē)零...

Mars高剛性結(jié)構(gòu)三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x采用的測(cè)量技術(shù)和精密的傳感器，結(jié)合精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)和溫度補(bǔ)償系統(tǒng)，精度高、重復(fù)性?xún)?yōu)。不管是復(fù)雜的三維形狀還是細(xì)微的尺寸差異，每一次測(cè)...

GTS微米級(jí)高精度激光跟蹤儀被廣泛應(yīng)用在飛機(jī)、汽車(chē)、船舶、航天、機(jī)器人、核電、軌道交通裝備制造行業(yè)以及大型科學(xué)工程、工業(yè)母機(jī)的高精密加工和裝配中，能夠解決大型、...

CEM3000實(shí)驗(yàn)室臺(tái)式掃描電鏡無(wú)需占據(jù)大量空間來(lái)容納整個(gè)電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶(hù)日常工作的桌面上，在用戶(hù)手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果。此外，該系列臺(tái)式電鏡也...

VT6000多功能共聚焦顯微鏡主要應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)膜材、顯示行業(yè)、超精密加工等諸多領(lǐng)域中的微觀形貌和輪廓尺寸檢測(cè)中，其次是對(duì)表面粗糙度、面積、體積等參數(shù)的檢測(cè)...

SuperViewW白光干涉光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。

高精度cnc三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)采用的測(cè)量技術(shù)和精密的傳感器，結(jié)合精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)和溫度補(bǔ)償系統(tǒng)，精度高、重復(fù)性?xún)?yōu)。不管是復(fù)雜的三維形狀還是細(xì)微的尺寸差異，每一次測(cè)量都能...

GTS大型工件尺寸公差激光跟蹤檢測(cè)儀器集激光干涉測(cè)距技術(shù)、光電檢測(cè)技術(shù)、精密機(jī)械技術(shù)、計(jì)算機(jī)及控制技術(shù)、現(xiàn)代數(shù)值計(jì)算理論于一體，是高精度、便攜式的空間大尺寸坐標(biāo)...

中圖儀器CEM3000系列實(shí)驗(yàn)室桌面型掃描電鏡無(wú)需占據(jù)大量空間來(lái)容納整個(gè)電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶(hù)日常工作的桌面上，在用戶(hù)手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果。此外，該...

中圖儀器高精度三座標(biāo)測(cè)量?jī)x關(guān)鍵部件一體鑄造成型，結(jié)構(gòu)緊湊、重量輕、強(qiáng)度高，運(yùn)行更為快速平穩(wěn)。采用的測(cè)量技術(shù)和精密的傳感器，結(jié)合精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)和溫度補(bǔ)償系統(tǒng)，精度...

CEM3000系列高易用性掃描電鏡高易用性快速成像、一鍵成片，無(wú)需過(guò)多人工調(diào)節(jié)。具有出色的電子光學(xué)系統(tǒng)，優(yōu)于4nm的空間分辨率，保證了高放大倍數(shù)下的清晰成像，能...

CEM3000系列鎢燈絲掃描電子顯微鏡外型緊湊，空間適用性強(qiáng)，整機(jī)采用大量的抗干擾設(shè)計(jì)，避免使用環(huán)境造成的影響，拓寬了應(yīng)用范圍。同時(shí)，該系列臺(tái)式電鏡具有非常豐富...

SuperViewW白光干涉三維光學(xué)形貌儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。白光干涉儀...

GTS大范圍激光追蹤測(cè)量?jī)x系統(tǒng)由計(jì)算機(jī)、跟蹤測(cè)量站、目標(biāo)鏡組成，將水平和垂直兩個(gè)方向的角度測(cè)量與距離測(cè)量結(jié)合在一起，構(gòu)成一個(gè)球坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng)；通過(guò)目標(biāo)鏡完成空間幾...

Mars國(guó)產(chǎn)移動(dòng)式三坐標(biāo)支持觸發(fā)探測(cè)系統(tǒng)，能夠?qū)Ω鞣N零部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測(cè)。支持中圖Power DMIS、Rational DMIS、ARCO...