1) O形圈的自由狀態(tài)與正圓形有一定的差異，很難以測(cè)量少數(shù)幾條(習(xí)慣上三條)均布直徑的平均值求得實(shí)際直徑的樹脂。對(duì)于大規(guī)格的O形圈更是如此，測(cè)量將出現(xiàn)較大的誤差。雖然投影儀和工具顯微鏡的精度較高，而且錐棒也是用投影儀或工具顯微鏡測(cè)量O形圈內(nèi)、外徑的精度是不高的，而用錐棒測(cè)量具有更高的精度和工作效率。  

2) 關(guān)于截面線徑的測(cè)量，國內(nèi)外*的檢查辦法是切片投影檢查。然而，此法不僅破壞產(chǎn)品，而且檢查結(jié)果也存在誤差。測(cè)量軸向線徑，還有一種方法是將O形圈用支架直立固定在工具顯微鏡上用反射光測(cè)量，這種方法與切片投影檢測(cè)的結(jié)果相比，前者比后者小0.05～0.10㎜，但在徑向線徑測(cè)量上卻未發(fā)現(xiàn)兩種方法的差異，這是值得進(jìn)一步研討的問題。  

4.O形橡膠圈表面質(zhì)量檢查。對(duì)O形橡膠圈表觀質(zhì)量的檢查，可按GB3452.2-87標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定進(jìn)行檢查。外觀質(zhì)量包括：錯(cuò)位、開?？s裂、修邊過量、流痕、凹凸缺陷等。通常用目測(cè)，發(fā)現(xiàn)問題可用工具顯微鏡或投影儀進(jìn)行復(fù)查。

3. 投影儀或工具顯微鏡。使用大型投影儀或工具顯微鏡等非接觸測(cè)量方法，是測(cè)量O形圈截面直徑和小規(guī)格O形圈內(nèi)、外徑的有效手段。然而這些方法，對(duì)大規(guī)格O形圈仍受量程的限制。在使用這種儀器時(shí)應(yīng)注意以下兩個(gè)問題：  

1) O形圈的自由狀態(tài)與正圓形有一定的差異，很難以測(cè)量少數(shù)幾條(習(xí)慣上三條)均布直徑的平均值求得實(shí)際直徑的樹脂。對(duì)于大規(guī)格的O形圈更是如此，測(cè)量將出現(xiàn)較大的誤差。雖然投影儀和工具顯微鏡的精度較高，而且錐棒也是用投影儀或工具顯微鏡測(cè)量O形圈內(nèi)、外徑的精度是不高的，而用錐棒測(cè)量具有更高的精度和工作效率。  

2) 關(guān)于截面線徑的測(cè)量，國內(nèi)外*的檢查辦法是切片投影檢查。然而，此法不僅破壞產(chǎn)品，而且檢查結(jié)果也存在誤差。測(cè)量軸向線徑，還有一種方法是將O形圈用支架直立固定在工具顯微鏡上用反射光測(cè)量，這種方法與切片投影檢測(cè)的結(jié)果相比，前者比后者小0.05～0.10㎜，但在徑向線徑測(cè)量上卻未發(fā)現(xiàn)兩種方法的差異，這是值得進(jìn)一步研討的問題。  

4.O形橡膠圈表面質(zhì)量檢查。對(duì)O形橡膠圈表觀質(zhì)量的檢查，可按GB3452.2-87標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定進(jìn)行檢查。外觀質(zhì)量包括：錯(cuò)位、開?？s裂、修邊過量、流痕、凹凸缺陷等。通常用目測(cè)，發(fā)現(xiàn)問題可用工具顯微鏡或投影儀進(jìn)行復(fù)查。

3. 投影儀或工具顯微鏡。使用大型投影儀或工具顯微鏡等非接觸測(cè)量方法，是測(cè)量O形圈截面直徑和小規(guī)格O形圈內(nèi)、外徑的有效手段。然而這些方法，對(duì)大規(guī)格O形圈仍受量程的限制。在使用這種儀器時(shí)應(yīng)注意以下兩個(gè)問題：  

1) O形圈的自由狀態(tài)與正圓形有一定的差異，很難以測(cè)量少數(shù)幾條(習(xí)慣上三條)均布直徑的平均值求得實(shí)際直徑的樹脂。對(duì)于大規(guī)格的O形圈更是如此，測(cè)量將出現(xiàn)較大的誤差。雖然投影儀和工具顯微鏡的精度較高，而且錐棒也是用投影儀或工具顯微鏡測(cè)量O形圈內(nèi)、外徑的精度是不高的，而用錐棒測(cè)量具有更高的精度和工作效率。  

2) 關(guān)于截面線徑的測(cè)量，國內(nèi)外*的檢查辦法是切片投影檢查。然而，此法不僅破壞產(chǎn)品，而且檢查結(jié)果也存在誤差。測(cè)量軸向線徑，還有一種方法是將O形圈用支架直立固定在工具顯微鏡上用反射光測(cè)量，這種方法與切片投影檢測(cè)的結(jié)果相比，前者比后者小0.05～0.10㎜，但在徑向線徑測(cè)量上卻未發(fā)現(xiàn)兩種方法的差異，這是值得進(jìn)一步研討的問題。